Prüfung vom 28.03.13

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redrum
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Prüfung vom 28.03.13

Beitrag von redrum »

8.
a) Beschreiben Sie das Grundprinzip/Funktionsweise eines Rasterelektronenmikroskops.
b) Welche Typen von Elektronenkanonen werden im Elektronenmikroskop verwendet?
Erklären Sie deren Unterschied, Vor- und Nachteile.

14.
Skizzieren und beschreiben Sie die Methoden folgender Neutronenstreuexperimente:
a) 2-Achsen Spektrometer
b) 3-Achsen Spektrometer
c) Flugzeitspektrometer
d) Rückstreuspektrometer.

18.
Beschreiben Sie die Messmethoden zur Bestimmung der thermischen Ausdehnung eines
Festkörpers.

23.
Erklären Sie den Zusammenhang von Messfehlern mit der Versuchsverteilung. Diskutieren
Sie für beiden Arten von Fehler folgende Fragen:
• Kann der Fehler zu einer Verschiebung des Mittelwertes der Versuchsverteilung
führen?
• Kann der Fehler zur Verbreiterung der Versuchsverteilung führen?
a) zufällige Fehler
b) systematische Fehler

31.
Schwierigkeiten bei bei der Lösung von Problemen kleinster Fehlerquadrate:
a) Was verstehen wir bei einem linearen Problem unter „schlecht konditioniert“?
b) was tun wir dagegen?
c) Was verstehen wir unter Konvergenz? Bei welcher Art von Problemen kleinster
Fehlerquadrate kann Konvergenz ein Problem sein (linear/nichtlinear)?

37.
Sensoren zur Längenmessung:
a) Erklären Sie die Grundlagen des Dehnungsmessstreifens?
b) Erklären Sie die Grundlagen des kapazitiven Weggebers? Welche Typen gibt es?
c) Was ist eine Lateraldiode? Funktionsprinzip?

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