Vorab: Die Prüfung war schriftlich unter der Aufsicht von Prof. Streli und ganz unabhängig vom Prüfer wurde der gesamte Stoff abgefragt.
Es kamen 10 Fragen über folgende Themengebiete:
- STM (+Auflösung)
- EELS/ELNES (Welche Information kann man gewinnen?)
- AES/XPS (Effekte erklären und was man misst. Kann man He nachweisen mit XPS/AES und warum? Kann man Lithium nachweisen mit AES und warum?)
- RBS Spektrum (Da kam ein Beispiel von einem Spektrum vor und nach dem Heizen - an Hand des Spektrums erklären was sich geändert hat.)
- Laterale Auflösung vs. Informationstiefe für μXRF, SIMS,AES (+Erklärung wie man auf die Reichweiten kommt)
- 3D XRF (da erinner ich mich leider nicht mehr genau was gewollt war - iwas in Richtung 3D X-Ray imaging methods, welche 2 es da gibt o.ä.)
- Atomformfaktor vs. Strukturfaktor
- IMFP (Erklärung mit Diagramm)
- Vakuumarten (Druck + mittl. freie Weglänge von Teilchen; welche Vakuummesszellen bei diesen Drücken)
- Synchrotronstrahlung (+Spektralverteilung eines Bending Magneten)